晶振频率测量手段对比【原创】

先说说这个晶振，做电子的都不会陌生。但是想更深入的了解晶振，我这里可以和大家讨论讨论。

说这个晶振一般按照供电不供电，分为：有源晶振和无源晶振。这里我测量的是有源晶振。

无源晶振，即为晶体。关于石英晶体，其实在我们所学的《电子技术基础 模拟部分》（模电）中，在讲解信号产生电路中有所提及，对于这一部分，不是特别的详析，但是仔细研读，也会叫我们对晶体有了初步的认识。也提及到，使用石英晶体振荡电路主要是因为它具有极高的“频率稳定度”。说起石英晶体就是SiO2。

有源晶振，相对于无源晶振有了进一步的改善，增加了一部分控制电路，从一定角度来说也是提高他的频率稳定度。简单说就是一个晶体+一个补偿电路。而补偿电路一般都是需要供电的，所以就有源了。

对于使用者来说，这些也许都不是最重要的，范伟不是说了么，“我不想知道我是怎么来滴，我就想知道怎么没滴“。那我就说说大家关心的。有源晶振在选型时候所关心的一些技术指标。当然晶振频率，有源晶振也分为多种，比如什么钟振，TCXO，VCXO，OCXO等等吧，我这里只说说TCXO。

TCXO的主要参数：首先是温度范围、频率、频率稳定度（+-？ppm）、稳定时间、启动功耗、静态功耗、老化率、相噪（回头我给大家说说如何测量相噪）。还有我就不一一例举了。忘了一个重要的，封装尺寸（7050、5032、3225、2018）等等吧。

使用中一般会遇到的问题，1、输入电源部分一定要滤波，2、电路设计中如果晶振附近有发热元件，可以将晶振下方所有层的铺铜挖掉，减少热传导。3、千万不要晶振上方有气体流动（比如风扇，或者你闲的吹口气），尤其是有源晶振，不然频率会有很大抖动。具体解释，要分析TCXO工作原理了。想知道的可以问我。这里不解释。

说了半天没有上正题，拿到一个晶振晶振频率，我们如何来测量呢？不测就不知道性能如何。

比较准确的测量方法：首先要有一个简易的推荐测试电路，按照一般晶振的推荐电路焊接得到。然后有一个电源，给晶振供电。最后是使用频谱仪或者频率计测量实际频率以及频偏。

上图是我当时测量时所记录，保证真实。

这个是我当时操作的板子，有点丑，不过能用。

使用频率计（也有人叫 计数器），测量就比较简单了，直接捅上就可以有读书了。

使用频谱仪，首先要设置扫描宽度，还有中心频率。开始呢可以把扫描宽度设置的稍微大一些，等发现以后再慢慢将扫描宽度减小。开始我测得时候还想呢，哎？怎么频谱仪不能测量这东西呢，精度不够啊。只能显示到百赫兹。困惑了我好几秒钟，后来发现扫描带宽可以越窄越是精度高，设置的问题。这两种手段都是相当准的。

图片展示，使用的仪器，还有就是测量的结果。

计数器：Agilent 53132A

频谱仪：Agilent N9010A

这两个是测量的10M的信号源。只做展示了。希望对大家有所帮助。

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