晶振的测试电路利用简单几个元件制作一个可测量 10kHz-100MHz 晶振的测试电路（电路如图），BG1 和所接多频振荡 器，经 C3、D1、D2 进行检波后可在 LED 上得到下正上负的电压，驱动 LED 发光。 若晶振已坏，LED 不亮。可将此小电路安装在维修用的电源上，留两个插测晶振元件的小孔。 制作中应注意：晶振的两条引出线不能相距过近，否则振荡幅度大大减小导致发光管不亮。一种简单的晶振检验器 用一般的万用表是不能测出晶振的好坏的，这里提供了一种简单而实用的晶振检验器，它 只采用一个 N 沟道结型场效应管（FET），两个普通 NPN 小功率晶体三极管，一个发光 管和一些阻容元件，便可有效的检验任何晶振的好坏。 如图所示，2N3823 结型 N 沟道场效应管（可用任何其它型号的同类小功率场效应管， 如 3DJ6， 3DJ7 等） 与被测晶体 （晶振） 等组成一个振荡器， 两个两个 NPN 三极管 2N3904 （也可用其它任何型号的小功率 NPN 三极管）接成复合检波放大器，驱动发光二极管 LED。若被测晶振良好时，振荡器起振，其振荡信号经 0.01uF 的电容耦合至检波放大器的 输入端，经放大后驱动发光二极管发光。如果被测晶振不好，则晶振不起振，发光二极管就 不发光。 本装置可检验任何频率的晶振但其最佳的工作状态是在 3---10MHz 范围内。 下图为电路原理图：下图为印刷板图简易晶振测试电路贡献人： 时间：2009-12-24 本文介绍一款简单易作的晶振测试装置晶振测试，原理电路如附图所示。 图中，V1 及其外围元件（包括被测晶振） 共同组成一个电容三点式振荡器。当探头 X1、X2 两端接入被测晶振时，电路振荡。振荡信号经 V2 射极 跟随级放大后输出，经 C4 耦合、D1、D2 倍压整流后为 V3 提供偏置电流，V3 导通，LED 发光。若晶振 不良或断路晶振测试，电路则不能起振，因而 LED 不发光。 该装置结构简单，所用元件极为普遍，而且只要元件 质量良好，装配无误，不需调试即可一次成功。探头可利用两个插孔代替。也可以选用带电缆的表笔或测 试棒，但引线不宜过长。该测试议可测试频率为 450KHz～49MHz 的各种晶振，工作电源推荐采用 6V 叠 层电池。
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