数字万用表二极管档测试原理与使用方法 数字万用表二极管档测试原理与使用方法

丧 ： 蛞 f， ， 、 ， ／ 数字万用表二极管档测试原理与使用方法 。 、1 f ≮ ． 言 方 忪引预 一 。 模拟式万用表 (俗称指针式万用表)的电阻档 专门另设用于测试二极管的档位——二极管测试档 能够方便地用于半导体元件性能的鉴别，但数字万 (简称二极管档)。 用表的电阻档则无能为力。究其原田，主要是数字 万用表电阻档所能提供的溯试电流太小，就常用的 2 二极管档测试工作原理 DT 830型 (以下均以此型为例)而言，它的 '20kt~ 该档位电路见图 1所示，它是在 200mV基本 档不大于 7,5 A，而 20MF~档仅仅只有 75nA。由 表基础上扩展而成的、+2．8V的集成电路内部基准 于半导体元件具有非线性特性，其 PN结的正、反 电压由 “V+”端 (】c④脚)引出，经过电阻R17，R 电阻与通过其中测试电流的大小密切相关，以如此 I卿 Rt．向镀恻二楹管vD棋供洒试电说．在被 二极管未接．、之 微弱的测试电流测试元件的正、反问电阻，其工作 前，分压电路A．B两点的电压分别为 点注定要落在PN结伏安特性曲线的弯曲区段，即 VA= ((Rl4+R15)，(R17+RI6+Rt+Rl4+R15))V+ 死区范围。

困此，在电阻档测出的阻值比正常使用 = ((274+~0,1}／(1+0．47+0，5-t-27443~．1)) vF R19 24k R48 4-7k 36 ElC VO1 6 1999 N0．6 敢迎订阅 欢迎撰稿 欢迎发布产品广告信息 维普资讯 × 2．8 = 2 782 fV) VB= (R15／(R17+R16+Rt+R14+R15)) V+ =f30．1／(1+0．47+0 5+274+30．1)】×2 8 = 275 [V) 集成电路 7106当前的输八电压为 V =VB= 0．275V=275m V 。 极管档测量市电电压 (AC220V)时，电流途经为R． 一 Rl Q1一Q2,Q此 刻为正向导通，而Ql则立刻 反向击穿，起到了限幅保护作用。与此同时， R 因 流过较大的电流而迅速发热 其电阻值将随体温升 高而急尉增大，由于限制了流过 Q1与 Q2的电流， 从而保护了 Q】 Q2的安全。 由于该值超出了基本表电压量程200mV，所 3 显示屏读数成为溢出状态 (显示 1”)。 当被测二极曾 VDx接八电路之后，A点电压 由2．782V被箝位到二极管的正向压降 VF(硅管为 0 7V左右．锗管为 0．3V左右)，而此时集成电路 7106的输入电压变为 V『N= (R15／(Ri4+Ris)j VF = 【30．1／(274+ 30．1)】VF≈ 0．1 VF 由此可见，在集成电路输入端，V被衰减了 10 倍，这相当于将 200mV的基本表扩展到了 2V的量 程，并且在显示屏上直接显示出被测二极管的正向 压降 V 在此期间，通过被测二极管的测试电流为 IF(硅管)≈ (V+一vF)，(R1 RI6+Rt) = (2 8—0．7)，(1+0．47+0 5) =1 066mA IF(锗管 )≈ (V+一V)／(R 7+R16+Rt】 = (2．8—0．3)／(1+ 47+0_

5) =1．296rnA 艟然，二极管档的测试电流比起电阻档至少要 大一个数量级，比值基本上能够捕足大多数半导体 二报管和三极管对其 PN结单向导电眭的测试判别 要求 = 基准电压 VREF由集成电路内部基准电压源 (+2．8v)经 RI8、Rl9、RP3、R R48分压供路， 口J调电阻 RP1的电压调整范围为 9 51-10 73m 通过适当调节RP1的滑臂动位置，便可 获得基准 电压 VREF=100 OmV。 C8和R29，R删 基准电压输入端高频滤波电 路 。 Qi、Q2和 R[、RI6组成测试端口过压保护电 路=R 为正温度系数的热敏电阻 PTC，晶体三极管 QI和 的集电结分别短接后，又将两者反极性串 联起来，利用其发射结的稳压原理，用于抑制测试 端口异常情况下的高电压侵扰。例如，如果误用二 二极管档测试撵作方法 (1)将红表棒插入 V -n”插孔，黑表捧插 入公共插孔 COM ”。 ∞ 置量程开关 (也称功能选择开关)予二撅管 测试档 ，该 档位上通 常印有二极管符 号标 志 — ” 固 将电源开关拨至闭合状态 “ON”。 红表棒接被测二极管正极，黑表捧接负极 此时管于应当处于正向导通状态，显示值即为正向 压降，完好管子的正向压降为：硅管 0．5-0 7'／，锗 管为 015-0 3V。