PS:2020.03.01,无锡的生活短暂而缓慢,今天就给大家整理了一下MOS电容相关的知识点。电容作为电路中经常会使用到的无源器件,相信大家一定不会陌生,但是在实际的工艺库中,关于电容,又有哪些需要注意的地方呢?
在不同FAB提供的标准单元工艺库内,电容是必不可少的,一般的工艺库中会提供以下电容:metal电容,MOS电容,poly(pip)电容等,最为常用的就是MOS电容啦!
MOS电容有很多好处,面积较小,且容值较大,但是缺点就是电容的精度不够。下面我们来着重介绍一下MOS电容! 做MOS电容使用时,各个极的接法如下,栅极作为电容的正端做电容,源极漏极和衬底全部连在一起作为负端。
直接上图,以NMOS为例。下图是一个典型的NMOS内部电容,大家是不是一眼望过去有很多电容,看到这里请不要慌(当时我就慌了),因为有很多不需要你关心。
Pic1
我们先介绍一下上述的各个电容,然后指出你需要关心的那一个,其他的都可以不用管。
C1:从图上看,存在于栅极G和电子沟道之间,那么栅和沟道之间的层次是什么,Metal-Oxide_Semi,是氧化层。大家还记得MOSFET的工作原理吗:栅极加电压,形成从栅指向衬底的电场,吸引电子形成沟道。这氧化层,不就是一个平板电容吗?高中物理老师教我们,平板电容的公式是C=S/(4Πkd),这个S就是指面积,1/4Πkd可以认为是单位面积的容值。但这个C1的面积是多大呢?
Pic2
如Pic2所示,Pic2是一个MOS管的立体图,很明显看出来,C1的面积是W*L,所以我们C1的容值就是WLCox(Cox代表单位面积的容值)。(题外话,metal to metal用的也是平板电容的原理)
C2:C2位于沟道和衬底之间,所以他是个衬底和沟道之间的电容,也是正比于W*L的面积的,不用太关心。
C3/C4:C3和C4是栅和源漏交叠部分的电容,大家注意,Oxide的平板电容明显包括了C1+C3+C4哦!那假设交叠的长度记成LD,单位交叠电容的容值记作Cov,那么想必大家已经计算出来了C3=C4=W*LD*Cov。
C5/C6:这两个电容式源极,漏极分别与衬底之间的电容,可以先不用太关心。
总结:C1,C3,C4占比容值大部分,这三个部分就是我们常说的CGS,CGD。另外的C2,C5,C6相对较小可以忽略。
了解了每个电容的组成成分,现在来说一下在各个工作区间内,MOS电容的组成成分:
截止区:截止区由于不存在沟道,所以栅极到沟道的电容可以认为为零,仅存在源极和漏极分别与栅极的交叠电容。
CGS=CGD=W*LD*Cov
课本上把LD给约去了,理由是交叠电容的影响因素非常复杂,不能单纯使用平板电容的公式去替代,但是作为一个IC电路工程师我觉得不用管这么多,用上面的公式更容易方便理解。
线性区:当VDS电压较小时,系统工作在线性区,正因为线性区的源漏压差较小,所以对靠近源极的平板电容和靠近漏极的平板电容影响不大,可以认为CGS=CGD,具体容值分析如下:
C总=C1+C3+C4=WLCox+2W*LD*Cov
当然以上忽略了C2,C5,C6容值较小的部分,CGS+CGD=C1+C3+C4,则
CGS=CGD=WLCox/2+W*LD*Cov
饱和区:饱和区由于漏极电压要大于源极,并且伴随着沟道向左夹断,氧化层中的电场存在强弱梯度,所以做电容,处于漏极部分的电容值仅为漏极的交叠电容,即是
CGD=W*LD*Cov
而CGS就包含了源极交叠电容外加栅极与沟道电容(原因是沟道夹断,沟道位置往左偏,所以沟道与栅极的电容就应该包含在CGS之中)
CGS=W*LD*Cov+W*Leff*Cox*2/3
下一篇:测电容 电容的测量方法